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X射线照相检测技术

  • 资料大小:376 KB
  • 运行环境:NT/2000/XP/2003/Vista
  • 资料语言:简体中文
  • 资料评级
  • 授权形式:资料共享
  • 更新时间:2012-02-16 11:22
  • 发布作者:小丸子~
  • 插件情况 无插件,请放心使用
  • 文件类型 RAR
  • 解压密码:gc5.com
  • 安全检测 瑞星 江民 卡巴斯基 金山
X射线照相检测技术
介绍: 一、照相法的灵敏度和透度计 (一)灵敏度 显示缺陷的程度或能发现最小缺陷的能力。 1、绝对灵敏度 在射线底片上能发现被检试件中与射线平行方向的最小缺陷尺寸。 与厚度关系:越薄越小,越后越大 2、相对灵敏度 在射线底片上能发现被检工件中与射线平行方向的最小缺陷尺寸占缺陷处试件厚度的百分数。用“k”表示。 K=(x/d)×100% X---平行射线方向的最小缺陷尺寸 d---缺陷处工件厚度
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X射线照相检测技术
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